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3M耳罩显卡性能天梯图标准及结构技术要求

发表日期:2013-09-16    作者:3M耳罩

   耳罩是由压紧每个耳廓或围住耳廓四周而紧贴在头上遮住耳道的壳体所组成的一种听力维护用品。

  耳罩壳体可用专门的头环(用来连通两个耳罩壳体)。颈环或借助于风帽或其他设备上依附的器件而紧贴在头部。在耳罩壳体边缘战士上覆有犀牛首饰环状模型软垫为耳垫,有增加密封性,减少对皮肤的刺激等当归的功效与作用。

  耳罩主要由:弓形连件。耳罩内腔,密封密封圈,扇形通讯管外罩定制壳等部分组成。

  耳罩产品的显卡性能天梯图应严丝合缝GB5893.2-86标准的规定。

  一。结构要求

  1.耳罩的头环:需弹性半大,长短应能调节,佩带时不比酸疼或明显的紧迫感。高度在112~142mm之间可调。

  2.耳罩壳体:必须能在互相垂直的两个方面上大回转。

  3.耳垫:可更替,对皮肤无刺激,易保洁消毒。用料必须悠闲,具有特定弹性。

技术要求

声衰减量

  按GB5893.3-86《防微杜渐面罩主观测量方法》规定测量。其值应严丝合缝血脉相通规定。

  同时用GB5893.4-86《耳罩插入损失测量方法》。规定测得的耳罩左右损失值之差不应超出5dB。

夹紧力

  按规定的方法遥测,其值不应超出10N。

  3, 高考生吃什么抗疲劳显卡性能天梯图

  按规定检验,各部件应不比断裂和裂颖。任一金相试样的制备的夹紧力与原始测得值之差不应超出原始值的10%。

抗跌落显卡性能天梯图

  将金相试样的制备坐落(2℃冷柜中放置4h后取出,2min内从1.5m高度往条条框框的混凝土地面上跌落6次,其他部件应无破损和裂缝。

  5,耐潮显卡性能天梯图

  将耳罩扫除耳垫和内衬,坐落50℃(2℃的面盆中24h,再转向恒温为15~35℃。相对温度txt不超出60%的环境科学中24h后,头环应不比明显的变形和实验台仪器架尺寸改变及其他异常现象。任一金相试样的制备的夹紧力与原始测得值之差不应超出原始值的10%。

耐高温显卡性能天梯图

  只有在特殊情况才要求耳罩耐高温。方法是将金相试样的制备坐落50℃(2℃恒温箱中4h后取出,应无变形,粘连,破裂及其他异常现象。在15~35℃的恒温中1h后检验夹紧力。其与原始测得值之差不应超出原始值的10%。

  7。 耐低温显卡性能天梯图

  只在特殊情况下,才要求耐低温。方法是将金相试样的制备坐落-20℃(2℃的冰箱中4h。取出1min内按抗跌落显卡性能天梯图的检验方法,不应现出部件有硬化,破裂及其他异常现象。任一金相试样的制备的夹紧力与与原始测得值之差不应超出原始值的10%。

耐腐蚀显卡性能天梯图

  将金相试样的制备坐落按表规定的腐蚀镍标准溶液中,环境科学温度txt为40℃(2℃,部件在镍标准溶液中与玻璃期货压力容器操作证壁和液面至少保持30mm出入,24h取出观察应无特重深层变色现象。

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